Productoverzicht
In de productielijn voor halfgeleiders is het Coating and Developing System een onmisbare sleuteluitrusting, die essentieel is vanaf het initiële chipprototype tot aan de vorming van circuitpatronen. Na ontvangst van het substraat activeert het coating- en ontwikkelsysteem eerst het hoge- rotatiesysteem. De fotoresist verspreidt zich gelijkmatig met de nauwkeurig op snelheid-geregelde draaitafel, en zelfs de millimeter-randen kunnen soepel worden gecoat-deze stap is de grootste test voor precisie, en een kleine afwijking zal de daaropvolgende chipprestaties beïnvloeden.
De gecoate fotoresist moet nog worden uitgehard. De ingebouwde- verwarmingsplaat van het coating- en ontwikkelsysteem zal geleidelijk opwarmen, zodat de lijmlaag stevig aan het substraat hecht. Nadat de lithografiemachine de belichting heeft voltooid, neemt deze onmiddellijk het ontwikkelingsproces over. Door de temperatuur en de spuitintensiteit van de ontwikkelaar te regelen, wordt de niet-blootgestelde overtollige lijmlaag verwijderd, waardoor het basispatroon van de geïntegreerde schakeling zichtbaar wordt.
In de praktijk is de lijnbreedteprecisie van het Coating and Developing System bijzonder betrouwbaar en geschikt voor diverse chipproductieprocessen. Bovendien is ook de productiecapaciteit, die het meest gewaardeerd wordt in de productielijn, uitstekend. Het kan een groot aantal substraten per uur verwerken, terwijl het geheugengebruik laag is. Het kan meer dan tien uur stabiel continu werken en kan het massaproductieritme volledig bijhouden.
Neem contact op met onze verkoopvertegenwoordigers om de meest geschikte oplossing voor u te verkrijgen.
Voordelen
De productie van chips met hoge-precisie is gebaseerd op de precisie-spincoatingtechniek, die een consistente toepassing van fotoresist garandeert en de daaropvolgende verwerkingsproblemen aanzienlijk vermindert.
Complexe problemen zoals het uitlijnen van de timing en de overdracht van wafers tussen apparaten kunnen eenvoudig worden afgehandeld door speciale gezamenlijke besturingsmethoden.
Aanzienlijke vooruitgang op het gebied van de nauwkeurigheid van de temperatuurregeling, homogeniteit op nanoschaalniveau en foutbeheersing hebben geresulteerd in opbrengstpercentages van boven de 90%.
De gespecialiseerde spincoating-oplossing is geschikt voor alle substraattypen en kan worden toegepast op wafers met verschillende diktes en ongebruikelijke vormen.
Uniformiteit en efficiëntie worden in evenwicht gehouden door een geoptimaliseerde spinsnelheid en coatingdruk, waardoor de opbrengstverliezen aanzienlijk worden verminderd en het gemakkelijker wordt om spanen met onregelmatige vormen te vervaardigen.
Parameters
①DS 100

|
DS 100 Apparaatoverzicht |
|||
|
Apparaatgrootte (mm) |
2825*1080*1600 2C2D+interface |
Wafelgrootte |
Wafeltjes van 2-6 inch (50 mm - 100 mm) |
|
WPH |
Minder dan of gelijk aan 160 stuks |
MTTR |
Minder dan of gelijk aan 4 uur |
|
Verdienstenbeoordeling |
Class1@0.1μm Alleen waferoverdrachtsgebied |
MTBF |
Groter dan of gelijk aan 1000 uur |
|
Toepasselijk proces |
Ik lijn, PI, PR |
MTBM |
>zes maanden |
|
Wafer-contactmateriaal |
PEEK/PTFE/KERAMIEK |
Wafelbreukpercentage |
Minder dan of gelijk aan 0,01% |
|
Cassettes |
SMIF; CASSETTE OPENEN |
UP-TIJD |
Groter dan of gelijk aan 95% |
|
Toepassingsgebied |
Samengestelde halfgeleider, geïntegreerde schakeling, voedingsapparaat, wetenschappelijk onderzoeksproject, optisch apparaat, IC, IGBT, MOSFET, MEMS, kromtrekkende wafel, vierkante wafel |
Software runtime-omgeving |
Windows 10 of hoger besturingssysteem |
|
Minimale lijnbreedte |
350 nm |
Koude- en kookplaatmodule |
(HP; CPL; ADH; HHP) Minder dan of gelijk aan 14PCS |
②DS 200

|
DS 200 Apparaatoverzicht |
|||
|
Apparaatgrootte (mm) |
1660*1510*2000 (Torenontwerp) |
Wafelgrootte |
Wafeltjes van 2-6 inch (50 mm - 100 mm) |
|
WPH |
Minder dan of gelijk aan 150 stuks |
MTTR |
Minder dan of gelijk aan 4 uur |
|
Verdienstenbeoordeling |
Class1@0.1μm Alleen waferoverdrachtsgebied |
MTBF |
Groter dan of gelijk aan 1000 uur |
|
Toepasselijk proces |
Ik lijn, PI, PR |
MTBM |
>zes maanden |
|
Wafer-contactmateriaal |
PEEK/PTFE/KERAMIEK |
Wafelbreukpercentage |
Minder dan of gelijk aan 0,01% |
|
Cassettes |
SMIF; CASSETTE OPENEN |
UP-TIJD |
Groter dan of gelijk aan 95% |
|
Toepassingsgebied |
Samengestelde halfgeleider, LED, optisch apparaat, IC, IGBT, MOSFET, MEMS, kromtrekkende wafel, vierkante wafel |
Software runtime-omgeving |
Windows 10 of hoger besturingssysteem |
|
Minimale lijnbreedte |
350 nm |
Koude- en kookplaatmodule |
(HP; CPL; ADH; HHP) Minder dan of gelijk aan 14PCS |
③DS 300

|
Overzicht DS300-apparaten |
|||
|
Apparaatgrootte (mm) |
2850*1360*2200 2C2D+interface |
Wafelgrootte |
Wafeltjes van 4-8 inch (100 mm- 200mm) |
|
WPH |
Minder dan of gelijk aan 160 stuks |
MTTR |
Minder dan of gelijk aan 4 uur |
|
Verdienstenbeoordeling |
Class1@0.1μm Alleen waferoverdrachtsgebied |
MTBF |
Groter dan of gelijk aan 1000 uur |
|
Toepasselijk proces |
Ik lijn, PI, PR |
MTBM |
>zes maanden |
|
Wafer-contactmateriaal |
ASML, Nikon, CANON, CECT, SMCC |
Wafelbreukpercentage |
Minder dan of gelijk aan 0,01% |
|
Cassettes |
SMIF; CASSETTE OPENEN |
UP-TIJD |
Groter dan of gelijk aan 95% |
|
Toepassingsgebied |
Samengestelde halfgeleider, geïntegreerde schakeling, voedingsapparaat, geheugenchip, wetenschappelijk onderzoeksproject, optisch apparaat, IC, IGBT, MOSFET, MEMS, kromtrekkende wafel, vierkante wafel |
Software runtime-omgeving |
Windows 10 of hoger besturingssysteem |
|
Minimale lijnbreedte |
180 nm |
Koude- en kookplaatmodule |
(HP; CPL; AD; DHP) Minder dan of gelijk aan 24PCS |
④DS 400

|
DS 400 Apparaatoverzicht |
|||
|
Apparaatgrootte (mm) |
3975*1655*2550 4C4D+Interface |
Wafelgrootte |
Wafeltjes van 6-8 inch (150 mm- 200 mm) |
|
WPH |
Minder dan of gelijk aan 180 stuks |
MTTR |
Minder dan of gelijk aan 4 uur |
|
Verdienstenbeoordeling |
Class1@0.1μm Alleen waferoverdrachtsgebied |
MTBF |
Groter dan of gelijk aan 1000 uur |
|
Toepasselijk proces |
Ik lijn, KrF, ArF, PI, PR, Pakket |
MTBM |
>zes maanden |
|
Wafer-contactmateriaal |
ASML, Nikon, CANON, CECT, SMCC |
Wafelbreukpercentage |
Minder dan of gelijk aan 0,01% |
|
Cassettes |
FOUP; SMIF; CASSETTE OPENEN |
UP-TIJD |
Groter dan of gelijk aan 95% |
|
Toepassingsgebied |
Samengestelde halfgeleider, geïntegreerde schakeling, voedingsapparaat, geheugenchip, wetenschappelijk onderzoeksproject, IC, IGBT, MOSFET, MEMS, kromtrekkende wafel, vierkante wafel |
Software runtime-omgeving |
Windows 10 of hoger besturingssysteem |
|
Minimale lijnbreedte |
90 nm |
Koude- en kookplaatmodule |
(LHP; CPL; ADH; HCH; PHP; HCP) Minder dan of gelijk aan 38PCS |
⑤DS 500

|
Overzicht DS 500-apparaten |
|||
|
Apparaatgrootte (mm) |
5370*2100*2650 4C4D+Interface |
Wafelgrootte |
8- 12 inch-wafeltjes (200 mm- 300 mm) |
|
WPH |
Minder dan of gelijk aan 200 stuks |
MTTR |
Minder dan of gelijk aan 4 uur |
|
Verdienstenbeoordeling |
Class1@0.1μm Alleen waferoverdrachtsgebied |
MTBF |
Groter dan of gelijk aan 1000 uur |
|
Toepasselijk proces |
Ik lijn, KrF, ArF, PI, PR, Pakket |
MTBM |
>zes maanden |
|
Wafer-contactmateriaal |
ASML, Nikon, CANON, CECT, SMCC |
Wafelbreukpercentage |
Minder dan of gelijk aan 0,01% |
|
Cassettes |
FOUP; SMIF |
UP-TIJD |
Groter dan of gelijk aan 95% |
|
Toepassingsgebied |
Samengestelde halfgeleider, geïntegreerde schakeling, voedingsapparaat, geheugenchip, wetenschappelijk onderzoeksproject, IC, IGBT, MOSFET, MEMS, kromtrekkende wafel, vierkante wafel, CoWoS |
Software runtime-omgeving |
Windows 10 of hoger besturingssysteem |
|
Minimale lijnbreedte |
45 nm |
Koude- en kookplaatmodule |
(LHP; CPL; ADH; HCH; PHP; HCP) Minder dan of gelijk aan 42PCS |
Certificaat



Populaire tags: coating- en ontwikkelingssysteem, China fabrikanten van coating- en ontwikkelingssystemen, leveranciers

